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变频电源中IGBT驱动的集成芯片
来源:艾特贸易2017-06-04
简介fLP250 ( TOSHIBA 公司生产)包含一个 GAALAS 光发射二极管和一个集成光探测器, 8 脚双列封装结构。适合于 IGBT 或功率 MOSFET 栅极驱动电路。图 1-20 为 TLP250 的内部结构简图,表 1-4 给出了
fLP250(TOSHIBA公司生产)包含一个GAALAS光发射二极管和一个集成光探测器,8脚双列封装结构。适合于IGBT或功率MOSFET栅极驱动电路。图1-20为TLP250的内部结构简图,表1-4给出了其工作时的真值表。 表1-4 TLP250工作时的真值表 图1-20 TLP250的内部结构简图 TLP250的典型特征如下: 1)输入阈值电流(IF):5mA(最大)。 2)电源电流(Icc):11mA(最大)。 3)电源电压( Ucc): 10~ 35V。 4)输出电流(I0):±0.5A(最小)。 5)开关时间(TPLH/TPHL):0.5μs(最大)。 6)隔离电压:2500Vp-p(最小)。 (1) TLP250的应用。图1-21和图1-22给出了TLP250的两种典型的应用电路。
图1-21 用于额定值1200V/50A以下IGBT的驱动
图1-22 用于额定值1200V/50A以上IGBT的驱动 在图1-22中,VT1和VT2的选取与用于IGBT驱动的栅极电阻有直接的关系,例如,电源电压为24V时,VT1和VT2的ICMAX≥24/RG。 TLP250不具备过流保护功能,当IGBT过流时,通过控制信号关断IGBT,IGBT中电流的下降很陡,且有一个反向的冲击。这将会产生很大的di/dt和开关损耗,而且对控制电路的过流保护功能要求很高。 (2)TLP2s0使用特点。 1) TLP250输出电流较小,对较大功率IGBT实施驱动时,需要外加功率放大电路。 2)由于流过IGBT的电流是通过其他电路检测来完成的,而且仅仅检测流过IGBT的电流,这就有可能对IGBT的使用效率产生一定的影响,比如IGBT在安全工作区时,有时出现的提前保护等。 3)要求控制电路和检测电路对于电流信号的响应要快,一般由过电流发生到IGBT可靠关断应在10μs以内完成。 4)当过电流发生时,TLP250得到控制器发出的关断信号,对IGBT的栅极施加一负电压,使IGBT硬关断。这种主电路的du/dt比正常开关状态下大了许多,造成了施加于IGBT两端的电压升高很多,有时就可能造成IGBT的击穿。 5)使用TLP250时应在管脚8和5间连接一个0.1μF的陶瓷电容来稳定高增益线性放大器的工作,提供的旁路作用失效会损坏开关性能,电容和光耦之间的引经长度不应超过1cm。